X荧光测厚仪-深圳市亿信丰科技

镀层测厚仪

仪器介绍

  X荧光测厚仪 EXF-10B是集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

可以满足微小测试点的需求，可达0.2mm

 高精度移动平台可精确定位测试点.

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

 高分辨率探头使分析结果更加精准

 良好的射线屏蔽作用

 测试口高度敏感性传感器保护

X荧光测厚仪 技术指标

型号：EXF-10B

 元素分析范围从铝(Al)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

 分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm。

 分析含量一般为ppm到99.9% 。

 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

 任意多个可选择的分析和识别模型。

 相互独立的基体效应校正模型。

 多变量非线性回收程序

工作温度：15℃至30℃ 湿度：≤80%

 电源: 交流220V±5V

外型尺寸：670mm×470mm×370mm

测量仓：520mm×370mm×105mm

 重量：45kg

X荧光测厚仪 标准配置

精密二维移动样品平台。

 Si-Pin探测器。

 信号检测电子电路。

 高低压电源。

 X光管。

 高度传感器

 保护传感器

 计算机

彩色打印机

应用领域

 黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

 金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

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