涂层测厚仪,X-Ray测厚仪,X射线荧光测厚仪

手持式涂镀层测厚仪 CMI243  介绍

牛津仪器CMI233测量黑色金属底材上的金属镀层厚度，用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。

技术规格：

• 准 确 度：相对标准片±3%
• 精 确 度：0.3%
• 分 辨 率：0.1μm(0.01mils)
• 电 涡 流：遵循DIN50984，BS5411 Part 3，ISO2360，ISO21968草案，ASTM B499，ASTM E376
• 存 储 量：26,500条存储读数
• 单       位：密耳（mil）、微米(μm )，一键自动转换
• 统计显示：读数次数、平均值、标准差、值
• 接       口：RS-232串行输出端口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机
• 显       示：3位数液晶显示屏，字体高度12.7mm(1/2")
• 尺       寸：长×宽×高=149×79.4×30.2mm
                                       (5 7/8”×3 1/8”×1 3/16”)
• 重       量：0.26kg(9 oz) 含电池
• 电       池：9V碱性电池，65小时连续使用

CMI243配置包括：

• CMI243主机
• ECP-M探头及拆除指南
• 校准用铁上镀锌标准片组
  
• 选购部件
  SMTP-1探头(磁感应探头)
  RS232串行电缆

CMI243探针状况：

CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量铁质底材上金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

操作范围

售后服务

  仪器自购买后享有自购买日期计起为期一年的保固期。
我公司提供完善的膜厚仪售后服务，能在时间为客户提供帮助，我们在膜厚仪行业积累了丰富的经验，能为客户提供有效、完善的测量方案和方法，牛津膜厚仪经过多年的不懈努力，已得到广大客户的认可和肯定。