品名
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DSY-II型单晶少子寿命测试仪
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特点/规格
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*.用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。 本仪器根据通用方法高频光电导衰退法 的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放 大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品 台共五部份组成; |