微跌试验/ 智能手机微跌实验/ JIS C 0044

在较小的高度范围内重复跌落被广泛应用于手机设计中并愈发重要国内外诸外手机制造商都有这个测试要求或需求。虽然各家标准不尽相同但大多大同小异，

中兴重复摔跌测试在双工位自由跌落试验机进行跌落高度15cm；

速度是20-30次/分，

跌落四个面：屏幕面，电池面，左侧面（或右侧面）上侧面（或下侧面）

跌落次数：是四个面每个面各5000次。

要求跌落：后手机外观结构、功能良好。

跌落面为手机前后左右四个面，其中电池面跌落2500次，其他三个面各跌落处于待机状态样机3台，跌落平面为桌面厚度10cm铝板。

跌落频率14次/分钟＋/－20 ％，500次，共跌落4000次，此为一组，跌落四组，每跌落一组检查一次。要求跌落后手机外观结构、功能良好。