镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪

镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 产品型号：XDLM、XUL、XULM、XAN XDVM 技术参数：仪器的特长：广泛应用型可测元素：Ti～U X射線管：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）管电压：45kV 管电流：1mA Be窗滤波器：一次滤波器：A1-自动切换二次滤波器：Co-自动切换检测器：比例计数管 样品观察：CCD摄像机 对焦方式：激光自动对焦 测定软件：世界上的FP法。数学计算测量方法， 安全机能：测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能 仪器自诊断功能 仪器介绍： 测量数据与Word和Excel链接自动生成报告和数据处理  产品特点： ★ 能够测量无铅焊锡 配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份 ★ 搭载中心搜索软件 通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。 ★ 拥有防冲功能 ★ 搭载激光对焦系统 ★ 搭载测试报告自动生成软件 ★ 拥有自动测量软件以及中心搜索软件 ★ 搭载了薄膜FP法软件