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仪器简介：
SPECTRO XEPOSx荧光光谱仪是一款于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。
技术参数：
1. 测定原理 X射线荧光分析法
2. 测定方法 能量色散型
3. 测定对象 固体、液体、粉状
4. 测定范围 13Al -92U
5. 样品室尺寸 W370mm×D320mm×H155mm
6. 制冷方式 电子制冷
7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换
8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析
主要特点：
●利用“筛选分析”画面，操作简单方便
●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到程度
●配备保护功能，限制条件或数据的变更
●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能
●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品
●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义
●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义
●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理
x荧光光谱仪根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。
x荧光光谱仪根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。
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