SPECTRO XEPOS 荧光光谱是德国斯派克分析仪器公司推出的新一代仪器。扩展的偏振光学系统使用50W低能量的X射线管作为辐射源,用于Na-U元素的同时分析。从X射线管中发出的原始X射线通过高通量偏振光学系统进行转换,得到的完全偏振且部分单色的X射线可以高灵敏地测定各种元素。这种分析技术在许多应用中不需要高吸收辐射的滤光片。
SPECTRO XEPOS荧光光谱可广泛地应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例。使用SPECTO XEPOS,在氦气保护状态下,在300秒钟之内,对于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的检测下限在1-7µg/g以上。
XEPOS型X射线荧光光谱仪还可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析,检出下限低,灵敏度高、稳定性好,可应对ELV、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准等。
产品特点:
SPECTRO XEPOS采用端窗钯靶50W射线管。最多可装8个偏振靶和次级靶,可设定各种不同的激发条件,以确保对从Na到U的元素进行测定。
光闸系统可以确保在更换样品时无需关闭光管,从而提高了系统的稳定性。
SPECTRO XEPOS采用目前的硅漂移检测器(SDD)。无论计数率如何变化,分辨率均保持一致。特别设计的准直器可显著改善信噪比。光谱分辨率小于160eV(以Mn ka线计)。计数率为120,000cps。在高计数率下仍有较高的分辨率,可缩短分析时间、提高分析准确度。
SPECTRO XEPOS的分析性能不仅取决于它采用了功能强大的分析部件及偏振技术,而且还取决于其精准的进样设计。德国斯派克分析仪器公司在开发SPECTRO XEPOS时就专门考虑到进样的问题。高精度样品交换器、新型样品盘的采用可大大减少机械和物力波动对测定的影响,改善分析结果。仪器配备样品旋转装置,可进一步改善测定不均匀样品以及表面不平整样品的分析结果。
SPECTRO XEPOS软件提供了一个简单明了、使用简便的操作界面。选定方法,输入样品识别信息,即可进行测定。通过完备的引导程序,操作者只需通过5个简单步骤即可创建新的分析方法。采用基本参数法PF或采用专门的SPECTRO TurboQuant软件,可轻而易举的完成未知样品的分析。SPECTRO XEPOS可搭载预制的应用软件包。该应用软件包括一套在出厂前就安装和校正好的硬件和分析方法。适用于分析ROHS,废渣,垃圾,油,水泥,炉渣等,SPECTRO XEPOS一机多用,是真正的多功能分析仪器。
技术规格:
光源:
钯靶X射线管
功率50W
电压50kV最多可装8个偏振靶和次级靶
检测器:
Peltiler冷却的硅漂移检测器(SDD)(≤-25℃)。
Moxtek Dura-Be窗,厚度8µm
稳定的峰值和光谱分辨率,计数率为120,000cps
峰背比Mn Kα>5000:1
光谱分辨率≤160eV(以Mn ka线计)
样品室
12位自动进样器,样品盘Φ32mm或Φ40mm可选
充氦保护系统或真空系统
软件
菜单式X-LAB Pro软件,光谱仪控制、解谱及数据评估
TurboQuant软件,可分析固体、粉末和液体(可选)
FP基本参数法软件,可适合RoHS检测(可选)
其他应用软件(可选)
计算机系统
外置式计算机
Windows操作系统
打印机
仪器规格
,即且还取决于其精准的进样设计。德国斯派克分析仪器公司在开发电源:120/230V AC±10%,50Hz/60Hz
尺寸:650750x400mm
重量:80kg
可选件
直径40mm的9位样品盘,带样品旋转装置
直径32,40,52mm样品杯
真空系统
稳压电源